- 高速信号的上升沿陡峭性确实是RE和SI之间矛盾的核心点之一,特别是在高频电路和高速数字信号设计中。这种矛盾主要体现在信号完整性(SI)与辐射发射(RE)的对立需求上:1. 上升沿陡峭与SI/RE的关系上升沿越陡峭:SI(信号完整性)变好:上升沿的陡峭性决定了信号的带宽。更快的上升沿意味着更高的频率分量参与信号的传输,从而更好地还原数字信号的形态(如方波的高对比边缘),提高接收端的解码准确性。RE(辐射发射)变差:上升沿越陡峭,信号中的高频分量越多,这些高频分量容易通过传输线、连接器和PCB走线辐
- 关键字:
仿真分析 EMC与SI测试 电磁辐射
emc与si测试介绍
您好,目前还没有人创建词条emc与si测试!
欢迎您创建该词条,阐述对emc与si测试的理解,并与今后在此搜索emc与si测试的朋友们分享。
创建词条
关于我们 -
广告服务 -
企业会员服务 -
网站地图 -
联系我们 -
征稿 -
友情链接 -
手机EEPW
Copyright ©2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
必威娱乐平台
杂志社 版权所有 北京东晓国际技术信息咨询有限公司

京ICP备12027778号-2 北京市公安局备案:1101082052 京公网安备11010802012473