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射频集成电路测试第十一讲

资料介绍
射频集成电路测试第十一讲
射频电路测试原理

第十一讲 逻辑分析仪(LA)

leiyh@mail.tsinghua.edu.cn
参考文献
Agilent仪器说明书16702B_逻辑分析系统\Service
Guide_16700-97015.pdf
..\Help Volume_16700AB_5988-9058EN
..\Logic Analysis System Modules_5988-9439EN
..\16700 Catalog_5968-9661E
..\16702B Front Panel_B3760-92003
..\Probing Solutions_5968-4632E
..\Installation Guide_16700-97023
..\LAN 16702B help Volume
..\Training Kit_16700_97020

2 射频电路测试原理 清华大学电子工程系 李国林 雷有华 2005春季学期
内容
11.1 逻辑分析仪的基本结构
11.2 逻辑分析仪的基本原理
11.3 定时分析和状态分析
11.4 模式发生器
11.5 16702B触发系统综述
11.6 进行基本测量
第五次实验 逻辑分析仪的使用
第十一讲 逻辑分析仪小结
3 射频电路测试原理 清华大学电子工程系 李国林 雷有华 2005春季学期
11.1 逻辑分析仪的基本结构
前面讨论了用于时域、频域、调制域的测量仪器,逻
辑分析仪
标签:射频测试
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